產(chǎn)品目錄
- PCT測(cè)試箱
- HAST試驗(yàn)箱
- 高壓滅菌鍋
- 恒溫恒濕試驗(yàn)箱
- 可程式高低溫試驗(yàn)箱
- 環(huán)境試驗(yàn)儀器
- 飽和型高壓加速老化試驗(yàn)箱
- 非飽和高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)
- 溫度濕度高低溫循環(huán)試驗(yàn)機(jī)
- 快速溫度變化試驗(yàn)機(jī)
- 高低溫交變?cè)囼?yàn)箱
- 冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 耐光試驗(yàn)機(jī)
- 步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室
- 耐候試驗(yàn)機(jī)(紫外線/日光式)
- 高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)(PCT)
- 鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)—耐腐蝕試驗(yàn)機(jī)
- 耐水試驗(yàn)機(jī)
- 耐塵試驗(yàn)機(jī)
- 高溫試驗(yàn)機(jī)
- 真空高溫試驗(yàn)機(jī)
- 蒸氣老化試驗(yàn)機(jī)
- 換氣式老化試驗(yàn)機(jī)
- 電氣加熱高溫爐
- 耐黃變?cè)囼?yàn)機(jī)
- 電子除濕防潮箱
- 真空老化試驗(yàn)機(jī)
- 工頻振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)
- 高溫高濕試驗(yàn)箱
- 溫度濕度鹽霧復(fù)合式試驗(yàn)箱
- 溫度濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)機(jī)
- 非標(biāo)測(cè)試設(shè)備
- 熱老化試驗(yàn)機(jī)
- 冷熱沖擊試驗(yàn)儀
- 高低溫循環(huán)試驗(yàn)機(jī)
- 恒溫試驗(yàn)箱
- 高溫高濕試驗(yàn)機(jī)
- LED測(cè)試設(shè)備
- 太陽能光伏組件測(cè)試設(shè)備
- 快速溫度變化試驗(yàn)箱
- UV紫外線老化試驗(yàn)
- 步入式恒溫恒濕室
- 振動(dòng)沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 淋雨/沙塵試驗(yàn)箱
- 其它儀器
- 電腦、手機(jī)試驗(yàn)儀器
- 90度剝離強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
- AS-6300D全自動(dòng)扭力試驗(yàn)機(jī)
- AS-8330單軸按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)
- AS-6300C NOTE-BOOK轉(zhuǎn)軸壽命試驗(yàn)機(jī)
- AS-6300B NOTE-BOOK轉(zhuǎn)軸壽命試驗(yàn)機(jī)
- AS-6300A NOTE-BOOK轉(zhuǎn)軸壽命試驗(yàn)機(jī)
- R.C.A紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)
- AS-5600耐磨擦試驗(yàn)機(jī)
- AS-8330C按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)
- AS-8330B按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)
- AS-8330A氣動(dòng)式按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)
- 手機(jī)翻蓋壽命試驗(yàn)機(jī)AS-6300B
- 手機(jī)跌落試驗(yàn)臺(tái)AS-DP-01
- AS-8818電腦式全自動(dòng)插拔力試驗(yàn)機(jī)
- 插拔力試驗(yàn)機(jī)
- 光學(xué)儀器
- 紙品試驗(yàn)儀器
- 力學(xué)試驗(yàn)儀器
- 模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)
- AS系列機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)
- AS系列工頻振動(dòng)臺(tái)
- 磁式高頻振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)
- 預(yù)力式?jīng)_擊碰撞試驗(yàn)機(jī)
- 加速度沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 跌落試驗(yàn)機(jī)(單臂)
- 跌落試驗(yàn)機(jī)(雙臂)
- 跌落試驗(yàn)機(jī)(單臂)1
- 杜邦沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 電腦伺服系統(tǒng)拉力試驗(yàn)機(jī)
- 微電腦拉力試驗(yàn)機(jī)
- 桌上型拉力試驗(yàn)機(jī)
- 插頭引線彎折試驗(yàn)機(jī)
- 落球沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)
- 金相設(shè)備
最新產(chǎn)品
- 電腦伺服系統(tǒng)拉力機(jī)
- AS-DE-150跌落試驗(yàn)機(jī),跌落測(cè)試我要詢價(jià)
- ts-80三次元影像式測(cè)量?jī)x
- TS-80可程式冷熱沖擊測(cè)試箱 冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
- AS系列工頻振動(dòng)臺(tái)
- 換氣式老化試驗(yàn)箱
- 蒸氣老化試驗(yàn)箱
- TH-11電解式鍍層測(cè)厚儀
- t-80電鍍膜厚儀
- VMS4030G二次元影像式測(cè)繪儀
- ts-80熒光膜厚計(jì)
- 微電腦拉力機(jī)
- 耐水試驗(yàn)機(jī)
- CPJ-3000A系列測(cè)量投影儀
- SOV-2010三次元影像式測(cè)量?jī)x
- HR-150A數(shù)顯洛氏硬度計(jì)
較早文章
- 耐紫外線老化試驗(yàn)箱：守護(hù)產(chǎn)品質(zhì)量的‘時(shí)光加速器 2025-11-07
- 氙燈老化試驗(yàn)箱的使用注意要點(diǎn) 2025-10-28
- 溫度濕度高低溫循環(huán)試驗(yàn)機(jī)具有自動(dòng)化程度高的特點(diǎn) 2025-10-25
- 溫度濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱的操作方法 2025-10-13
- 飽和蒸汽壽命試驗(yàn)機(jī)：產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵測(cè)試工具 2025-09-23
- 鹽霧試驗(yàn)箱操作流程詳解 2025-09-19
- PCT老化試驗(yàn)箱使用注意事項(xiàng)有哪些 2025-09-09
- 高低溫試驗(yàn)箱在金屬行業(yè)的應(yīng)用價(jià)值 2025-08-27
pct高壓加速老化試驗(yàn)箱LED光源衰退的原因分析
更新時(shí)間：2016-06-02 點(diǎn)擊次數(shù)：779次
pct高壓加速老化試驗(yàn)箱LED光源衰退的原因分析
pct高壓加速老化試驗(yàn)箱是測(cè)驗(yàn)半導(dǎo)體封裝之濕氣才能，待測(cè)商品被置于苛刻之溫度、濕度及壓力下測(cè)驗(yàn)，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口進(jìn)入封裝體，多見之毛病方法為自動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕形成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染形成短路等。
LED具有低電壓、低能耗、長(zhǎng)壽數(shù)、高可靠性、易保護(hù)等長(zhǎng)處,已變成照明職業(yè)的干流。盡管LED光源已逐漸替代別的光源變成照明職業(yè)的干流，但其壽數(shù)及其可靠性仍有待進(jìn)步，這已變成現(xiàn)階段的研討要點(diǎn)。
LED光源可靠性一般采納pct高壓加速老化試驗(yàn)箱進(jìn)行一個(gè)溫度加速老化實(shí)驗(yàn)，在LED樣品實(shí)驗(yàn)中跟著老化時(shí)刻的增加，會(huì)產(chǎn)生光衰退，而產(chǎn)生光闌珊的因素有熒光粉、硅膠以及芯片的衰減。
pct高壓加速老化試驗(yàn)箱是測(cè)驗(yàn)半導(dǎo)體封裝之濕氣才能，待測(cè)商品被置于苛刻之溫度、濕度及壓力下測(cè)驗(yàn)，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口進(jìn)入封裝體，多見之毛病方法為自動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕形成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染形成短路等。
LED具有低電壓、低能耗、長(zhǎng)壽數(shù)、高可靠性、易保護(hù)等長(zhǎng)處,已變成照明職業(yè)的干流。盡管LED光源已逐漸替代別的光源變成照明職業(yè)的干流，但其壽數(shù)及其可靠性仍有待進(jìn)步，這已變成現(xiàn)階段的研討要點(diǎn)。
LED光源可靠性一般采納pct高壓加速老化試驗(yàn)箱進(jìn)行一個(gè)溫度加速老化實(shí)驗(yàn)，在LED樣品實(shí)驗(yàn)中跟著老化時(shí)刻的增加，會(huì)產(chǎn)生光衰退，而產(chǎn)生光闌珊的因素有熒光粉、硅膠以及芯片的衰減。
會(huì)員_a.png)