高壓加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

　　高壓加速老化試驗箱冷凝器灰塵之清除冷凝器應定期每月保養，利用真空吸塵器將冷凝器散熱網片上附著之灰塵吸除或利用高壓空氣噴除灰塵。

　　高壓加速老化試驗箱濕球測試布之更換當測試布表面不干凈或變硬，或于做完溫度控制后，繼續做溫濕球度控制前都須更換測試布。測試布約三個月更換一次，更換時應用清潔布擦拭測溫體，更換新測試布時應先清洗干凈。

　　高壓加速老化試驗箱安全保護：

　　試驗時全程檢測超溫超壓保護，一階段儀表內部超高溫保護，二階段儀表內部加濕器缺水保護，高壓力保護，水箱 缺水報警斷電，二階段加濕管極限溫度保護，二階段超高壓保護，三階段緊急泄壓保護，手動泄壓保護，自動泄壓等。