PCT高壓加速老化試驗箱與HAST試驗箱主要作用是用來測試半導體封裝的濕氣能力，待測產品被置于嚴苛的溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體.廣泛應用于多層線路板，IC封裝，LED屏幕，LED，半導體，磁性材料，釹鐵硼，稀土等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性.常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環境因素(如:溫度)與工作因素(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

　　那么PCT高壓加速老化試驗箱與HAST試驗箱到底有些什么區別，為方便客戶選型,艾思荔檢測儀器做出以下簡單描述，希望能夠幫到客戶選型:

　　PCT高壓加速老化試驗箱的主要功能是:壓力是對應溫度飽和壓力顯示，濕度也是對應該溫度條件下的飽和蒸汽壓力。換句話說飽和蒸汽溫度、飽和蒸汽濕度、飽和蒸汽壓力是相對應的。

　　HAST試驗箱的主要功能是:溫度，壓力，濕度隨用戶試驗條件都可以調節，不受飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度的影響，即為非飽和控制。換句話說:試驗溫度，壓力，濕度隨用戶試驗條件是可以調節。此時會存在一個問題:非飽和狀態下的濕度的準確性的問題，艾思荔檢測儀器所使用的濕度檢測裝置是根據試驗箱內真實環境通過干濕球對比出來顯示和控制的，不是通過換算關系顯示出來并控制，其準確性可以得以保障。